量子效率测试仪的这些知识值得我们学习

 　　量子效率测试仪测试方法与步骤：

　　（1）将待测CCD芯片和标准探测器，以及它们各自的驱动电路放置在暗室中，并调节测量系统各部分仪器的参数。打开光源的开关，使电流保证在8.4到8.6安，打开单色仪开关，打开皮安表开关和移动位移台的开关。

　　（2）通过上位机程序控制待测CCD芯片电子快门，调整CCD芯片的积分时间来控制CCD芯片的曝光时间和曝光量。（一般调好不用管）。

　　（3）调节移动位移台，将标准件调到和激光光斑重合处（目前大约41500）。

　　（4）记录皮安表的数值，查表，找出对应波长的数值，用皮安表的数值除以查表得出的值，得出功率值。（正好皮安对皮瓦）

　　（5）盖住CCD相机的镜头，在CCD上位软件上，连接设备，连续采图，设置参数中输入对应波长，功率值后。再单击量子效率，完成暗图像的采集。

　　（6）调节移动位移台，将CCD工业相机调到激光光斑重合处，（目前大约是回到原点）。

　　（7）揭开CCD的镜头，让激光光斑打到CCD上，在设置参数中输入对应波长，功率值后，亮图上打上对勾。再单击量子效率，完成亮图像的采集。

　　（8）记录量子效率测试仪的量子效率值。